Pour les clichés de Laue obtenus avec l'appareil à rayons X ( 554 801 ).
Caractéristiques techniques :
Dimensions : 8 mm x 8 mm x 0,3 mm Écartement des plans réticulaires : 282 pm Structure cristalline cubique à faces centrées Surface : parallèle [100]
Caractéristiques techniques :
Dimensions : 8 mm x 8 mm x 0,3 mm Écartement des plans réticulaires : 282 pm Structure cristalline cubique à faces centrées Surface : parallèle [100]
Sciences > Physique > Produits > Physique des solides > Structures cristallines > Clichés de Laue et Debye-Scherrer, réflexion de Bragg
Sciences > Physique > Produits > Physique atomique et nucléaire > Notions de base > Détermination de la constante de Planck
Sciences > Physique > Produits > Optique > Vitesse de la lumière > Méthode des impulsions lumineuses
Poids: 0.01 Kg Delai de livraison estimé : 12 semaines