Pour les clichés de Laue obtenus avec l'appareil à rayons X ( 554 801 ).
Caractéristiques techniques :
Dimensions : 8 mm x 8 mm x 0,3 mm Écartement des plans réticulaires : 201 pm Structure cristalline cubique à faces centrées Surface : parallèle [100]
Caractéristiques techniques :
Dimensions : 8 mm x 8 mm x 0,3 mm Écartement des plans réticulaires : 201 pm Structure cristalline cubique à faces centrées Surface : parallèle [100]
Sciences > Physique > Produits > Physique des solides > Structures cristallines > Clichés de Laue et Debye-Scherrer, réflexion de Bragg
Sciences > Physique > Produits > Physique atomique et nucléaire > Appareil à rayons X > Accessoires
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